SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments · 64-TSSOP (DGG)

Name: SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74LVTH182512DGGR

3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers

關鍵事實

Texas Instruments SN74LVTH182512DGGR 的庫存、交期與價格按需核實；ONE BOM LIMITED 1 個工作日內回覆。

更新於 2026年9月17日

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深圳工作時間（UTC+8）內 2 小時回覆。常規料 1 個工作日內報價；緊缺料需全球渠道核實，24–72 小時報價。

品控流程（對標行業標準）

來源核驗 — 供貨方資質、批次來源宣告、原廠 / 代理鏈路留檔 (AS6081)

入庫外觀檢查 — 標識、引腳共面、氧化、翻新痕跡 (IDEA-STD-1010-B)

X-Ray — die、bond wire、空洞與標準樣品對比 (AS6171/4)

開蓋 / 溶劑測試 — 抽樣開蓋看 die 標識；丙酮擦拭絲印 (IDEA-STD-1010-B)

功能 / 電性測試 — 關鍵引數上機或送第三方實驗室 (AS6171/6)

溼敏與包裝 — MSL 等級、真空袋、乾燥劑、溼度卡 (JEDEC J-STD-020 / J-STD-033)

出貨報告 — 每批附檢測照片與報告編號 (ISO 9001:2015)