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SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments · 64-TSSOP (DGG)

3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers

Dados principais

Estoque, prazo e preço de SN74LVTH182512DGGR da Texas Instruments são verificados sob consulta; a ONE BOM LIMITED responde em 1 dia útil.

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Processo de qualidade conforme normas do setor

  1. Verificação de origem — credenciais do fornecedor, declaração de origem do lote, registros de cadeia autorizada (AS6081)
  2. Inspeção visual de entrada — marcação, coplanaridade, oxidação, sinais de recondicionamento (IDEA-STD-1010-B)
  3. Raio-X — die, fios de bonding e vazios comparados com amostra padrão (AS6171/4)
  4. Decap / teste com solvente — abertura de amostra para marca do die; teste de marcação com acetona (IDEA-STD-1010-B)
  5. Teste funcional / elétrico — parâmetros-chave em bancada ou laboratório independente (AS6171/6)
  6. Umidade e embalagem — nível MSL, saco a vácuo, dessecante, indicador de umidade (JEDEC J-STD-020 / J-STD-033)
  7. Relatório de envio — fotos de inspeção e número do relatório em cada lote (ISO 9001:2015)

O que acontece depois da sua solicitação

  1. 1. Primeira resposta em 2 horas úteis (UTC+8)
  2. 2. Cotação com preço, prazo, date code e Incoterm
  3. 3. Pagamento por T/T, PayPal, carta de crédito ou escrow
  4. 4. Fotos de inspeção antes do envio
  5. 5. Garantia de qualidade de 30 dias e política de devolução

Como comprar: condições de pagamento, Incoterms e garantia de 30 dias →