V62/04730-01XE Texas Instruments · 64-TSSOP (DGG)

Name: V62/04730-01XE Texas Instruments
Brand: Texas Instruments
SKU: V62/04730-01XE

Enhanced Product 3.3-V Abt Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers

Dados principais

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Atualizado em 17 de set. de 2026

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Processo de qualidade conforme normas do setor

Verificação de origem — credenciais do fornecedor, declaração de origem do lote, registros de cadeia autorizada (AS6081)

Inspeção visual de entrada — marcação, coplanaridade, oxidação, sinais de recondicionamento (IDEA-STD-1010-B)

Raio-X — die, fios de bonding e vazios comparados com amostra padrão (AS6171/4)

Decap / teste com solvente — abertura de amostra para marca do die; teste de marcação com acetona (IDEA-STD-1010-B)

Teste funcional / elétrico — parâmetros-chave em bancada ou laboratório independente (AS6171/6)

Umidade e embalagem — nível MSL, saco a vácuo, dessecante, indicador de umidade (JEDEC J-STD-020 / J-STD-033)

Relatório de envio — fotos de inspeção e número do relatório em cada lote (ISO 9001:2015)

O que acontece depois da sua solicitação

1. Primeira resposta em 2 horas úteis (UTC+8)

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3. Pagamento por T/T, PayPal, carta de crédito ou escrow

4. Fotos de inspeção antes do envio

5. Garantia de qualidade de 30 dias e política de devolução