TI・ADI のみ取扱い、グローバルチャネル

G3 詳細検査

標準検査に開封解析を追加し、チップ上のメーカー刻印を調べます。

提供状況

準備中

層別の検査項目

層確認内容
1~5G2 の全項目
6 開封解析開封とチップ刻印の確認

試料への影響

破壊検査。試料数は事前に書面で合意します。

記録・報告

G2 の記録にチップ写真と刻印照合を追加

用途に応じたレベルの選び方

高額注文、拡張温度範囲・車載部品、調達情報不足、下位レベルで注意が必要とされた部品

工程設計で参照する資料

G2 の参照規格

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ご提示できる根拠

  1. TI・ADI のみ取扱い、グローバルチャネル 掲載・見積りは Texas Instruments と Analog Devices の部品のみです。 根拠を見る →
  2. TI・ADI 在庫の毎日の変動チェック TI.com と analog.com の在庫情報を毎日更新します。 根拠を見る →
  3. 自社構築の TI・ADI 品質管理体制 マーキング、デートコード、梱包、入手経路を検査します。 根拠を見る →