SN74LVTH18646APMG4 Texas Instruments · 64-LQFP (PM)

Name: SN74LVTH18646APMG4 Texas Instruments
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74LVTH18646APMG4

3.3-V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Transceivers And Registers

핵심 정보

Texas Instruments의 SN74LVTH18646APMG4 재고·납기·가격은 요청 시 확인합니다. ONE BOM LIMITED는 1영업일 내 회신합니다.

업데이트 2026. 9. 17.

계정 없이 요청 가능. 영업시간 기준 2시간 이내 답변(UTC+8).

부품 번호수량회사 이메일quote.companyquote.shipTo

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이름 (선택)quote.role (선택)quote.phone (선택)quote.website (선택)필요 일자 (선택)목표 단가 / 데이트코드 / 비고 (선택)

선전 업무 시간(UTC+8) 내 2시간 안에 회신합니다. 일반 부품은 1영업일 내, 품귀 부품은 채널 확인을 위해 24–72시간 내 견적합니다.

업계 표준에 맞춘 품질 프로세스

출처 검증 — 공급자 자격, 로트 출처 확인서, 정규 유통 기록 (AS6081)

입고 외관 검사 — 마킹, 리드 평탄도, 산화, 재생 흔적 (IDEA-STD-1010-B)

X-ray — 다이, 본딩 와이어, 보이드를 기준 샘플과 비교 (AS6171/4)

디캡 / 용제 시험 — 샘플 디캡으로 다이 마킹 확인, 아세톤 마킹 시험 (IDEA-STD-1010-B)

기능·전기 시험 — 주요 파라미터를 벤치 또는 제3자 시험소에서 측정 (AS6171/6)

습기·포장 — MSL 등급, 진공 포장, 건조제, 습도 카드 (JEDEC J-STD-020 / J-STD-033)

출하 보고서 — 모든 로트에 검사 사진과 보고서 번호 (ISO 9001:2015)

견적 요청 후 진행 절차

1. 업무 시간 내 2시간 안에 1차 회신(UTC+8)

2. 가격·납기·데이트코드·인코텀즈가 포함된 견적

3. T/T, PayPal, L/C 또는 에스크로 결제

4. 출고 전 검사 사진 발송

5. 30일 품질 보증 및 반품 정책